鎳/石墨烯在條紋狀銅基板上電化學與磁特性研究
| dc.contributor | 蔡志申 | zh_TW |
| dc.contributor | Tsay, Jyh-Shen | en_US |
| dc.contributor.author | 謝銘杰 | zh_TW |
| dc.contributor.author | Xie, Ming-Jie | en_US |
| dc.date.accessioned | 2022-06-08T02:50:46Z | |
| dc.date.available | 2027-02-11 | |
| dc.date.available | 2022-06-08T02:50:46Z | |
| dc.date.issued | 2022 | |
| dc.description.abstract | 本實驗主要用射頻濺鍍鎳在商用石墨烯/銅基板，並利用原子力顯微鏡、磁光科爾效應儀與循環伏安法，藉以研究鎳/石墨烯結構對薄膜磁特性及電化學電位磁控制的變化。研究中發現在石墨烯上成長鎳薄膜，受到形狀異向性影響，於縱向磁化會呈現出有面上二對稱的磁化難軸與磁化易軸，並利用原子力顯微鏡發現了石墨烯/銅樣品上呈現出有規律的刻痕，而隨著鎳厚度的增加，矯頑力也隨著變大，更容易於觀察。在電化學中循環伏安法，在電化學研究中已知不同條件的樣品在化學溶液有不同的氧化還原反應，故透過循環伏安法來進行鎳/石墨烯的研究是必要的，在電化學實驗中選用20 ~ 70 nm的鎳/石墨烯/銅樣品來進行電位磁控制，在實驗中溶液為10、100 mM KCl分別加入0.1 mM HCl溶液，因此要先從中找到了氯離子的吸附、退吸附電位、鎳/銅的氧化還原電位、氫氣的反應電位，並發現溶液濃度上升會使氧化還原電位上升，其電位利用能斯特方程式計算與實驗系統數據呈現高再現性。依據循環伏安法的實驗結果，會以濃度、電位、厚度的比較來做氯離子吸附退吸附對矯頑力的影響，並且選擇了僅有氯離子的吸退附電位區間進行比較，可以從數據發現濃度改變、電位調控、氯退吸附會影響其矯頑力的變化，並且會符合其薄膜厚度Neel wall與Bloch wall的變化趨勢。 | zh_TW |
| dc.description.abstract | none | en_US |
| dc.description.sponsorship | 物理學系 | zh_TW |
| dc.identifier | 60841039S-41100 | |
| dc.identifier.uri | https://etds.lib.ntnu.edu.tw/thesis/detail/b582e64b085a918c59f4c04b962f7593/ | |
| dc.identifier.uri | http://rportal.lib.ntnu.edu.tw/handle/20.500.12235/117699 | |
| dc.language | 中文 | |
| dc.subject | 循環伏安法 | zh_TW |
| dc.subject | 鎳 | zh_TW |
| dc.subject | 電位誘導磁異向性 | zh_TW |
| dc.subject | 石墨烯 | zh_TW |
| dc.subject | none | en_US |
| dc.title | 鎳/石墨烯在條紋狀銅基板上電化學與磁特性研究 | zh_TW |
| dc.title | Electrochemical and magnetic properties of nickel/graphene on stripe-patterned copper | en_US |
| dc.type | 學術論文 |